Tomographie numérique par rayons X

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The Right Image

Nikon Metrology NV

Une calibration rapide et automatisée

Une autre caractéristique, Local.Calibration, permet une calibration rapide et automatisée de la taille des voxels, quelle que soit la position de scan de la TN, évitant à l’utilisateur d’avoir à le faire manuellement. Idéale pour les applications en métrologie avec une précision des mesures radicalement améliorée, cette innovation offre également l’avantage de pouvoir suivre de rigoureuses procédures sans aucune qualification requise tout en assurant la traçabilité de l’incertitude.

Afin d’augmenter la disponibilité du système par TN, nous avons travaillé à l’amélioration de la durée de vie du filament via Auto.Filament Control, qui double la durée de vie du filament, permettant ainsi de diminuer les coûts d’utilisation tout en augmentant la disponibilité du système sans rien perdre de la résolution du microfocus. L’introduction des coupelles de filament, prêtes à être installées, grâce au dispositif Quick.Change, permet de réduire considérablement les temps de remplacement du filament. Cette procédure dès plus pratiques, est facilement répétable et ne nécessite aucune qualification de l’opérateur, éliminant de fait l’erreur humaine. De plus, les ingénieurs de Nikon Metrology ont aligné et conditionné les filaments eux-mêmes pour proposer des performances optimales.

De plus, l’innovation Half.Turn CT permet de conserver, avec seulement 180° de rotation de l’objet pour une acquisition, la qualité d’image habituellement obtenue sur 360°. On multiplie ainsi par deux l’efficacité de l’inspection en augmentant de cent pour cent la vitesse d’acquisition des données, amélioration significative à destination du monde la production !

Le XT H 225 ST 2x propose également une fonction de réglage motorisé du FID (distance source - détecteur) pour éviter que l’utilisateur n’ait à augmenter la puissance des rayons X (et en même temps la taille de la tâche focale), ou d’allonger les temps d’exposition du détecteur, allongeant les temps de scan, pour compenser le fait que l’intensité des rayons X diminue d’autant que la distance source – détecteur augmente. On peut ainsi, sélectionner une FID plus courte pour des durées de scan plus courtes, ou choisir de conserver un meilleur rapport signal/bruit pour une puissance d’émission des rayons X réduite.

Le logiciel Inspect-X, développé en interne par Nikon Metrology, est conçu pour fluidifier le processus d’acquisition et de reconstruction des données de la TN. L’accent est mis sur l’intelligence et la simplification de l’interface afin d’aider les utilisateurs novices et en ne proposant que les informations nécessaires à l’utilisation du système. Les utilisateurs expérimentés peuvent toutefois accéder à tous les réglages, paramètres (source et détecteur) et mode d'acquisition pour la plus grande des polyvalences.

MSM

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