Nouveau Nikon Metrology XT H 225 ST 2x : une nouvelle approche de la tomographie numérique par rayons X Tomographie numérique par rayons X

Auteur / Rédacteur: Source : Nikon Metrology / Gilles Bordet

Nikon Metrology a apporté des améliorations exceptionnelles à son nouveau système de Tomographie Numérique (TN) par rayons X, microfocus, de 225 kV pour créer le XT H 225 ST 2x.

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Le nouveau système de TN par rayons X de Nikon Metrology, le XT H 225 ST 2x, propose une combinaison unique de cinq fonctions innovantes pour être encore plus convivial.
Le nouveau système de TN par rayons X de Nikon Metrology, le XT H 225 ST 2x, propose une combinaison unique de cinq fonctions innovantes pour être encore plus convivial.
(Source : Joel Penn Photography)

Deux caractéristiques que l’on ne trouve dans aucun autre système de TN industrielle : la première, appelée Rotating.Target 2.0, utilise un refroidissement encore plus efficace tout en maîtrisant la taille de la tâche focale, jusqu’à trois fois plus petite pour des images toujours plus claires ; et la seconde, le Half.Turn CT, est une nouvelle méthode permettant de diviser quasiment par deux l’angle de rotation d’un échantillon pendant l’acquisition, ce qui accélère le processus tout en conservant une qualité d’image optimale.

Plus simple d’utilisation et offrant un rendement multiplié par deux, ce nouveau système ouvre la porte à de très nombreuses applications, des laboratoires de musées à la R&D, de l’atelier de fabrication au monde universitaire. L’avantage intrinsèque de la TN par rayons X est qu’elle permet d’inspecter l’intérieur et l’extérieur d’un échantillon et ce, de manière non destructive. Le XT H 225 ST 2x permet, grâce à des milliers d’heures de tests rigoureux, d’adapter une qualité de résultat optimale fonction de la pièce à étudier.

Innovation Rotating.Target 2.0

Cette fonction permet de collecter des données d’une qualité maximale en renforçant la résolution des images. Les périodes de fonctionnement sont deux fois plus longues avant maintenance, augmentant significativement la disponibilité de l’équipement tout en réduisant les coûts d’utilisation. Ce système de rotation de la cible permet de dissiper plus efficacement la chaleur générée un point focal plus petit, permettant d’émettre des rayons X en continu et à plus forte puissance, augmentant considérablement la vitesse et la résolution du scan, sans d’indispensables pause de refroidissement.

Jusqu’à quatre cibles, facilement interchangeables par l’utilisateur, peuvent être montée sur un même tube source. La cible réfléchissante est proposée de série avec une taille de point focal de 3 µm. Cette solution offre la puissance et la résolution nécessaire pour de nombreuses applications. D’un autre côté, la cible rotative offre une taille de point focal trois fois plus petite à partir de 30W, ce qui permet d’obtenir des images nettes à forte puissance avec un temps d’acquisition réduit. La cible en transmission offre, quant à elle, la plus petite tâche focale descendant jusqu’à 1 μm, pour une finesse d’image encore supérieure. Enfin, la cible multi-matériaux, pour les émissions de rayons X à faible énergie dédiés à l’analyse des matériaux, peut également être montée.

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