Mesure de la teneur en phosphore de revêtements

Rédacteur: Jean-René Gonthier

>> Helmut Fischer propose une installation pour mesurer la teneur en phosphore de revêtements nickel chimiques avec la fluorescence de rayons. La teneur en phosphore de revêtements Ni déposés chimiquement est une grandeur techniquement importante dont l'acquisition n‘est cependant pas si aisée.

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Spectres de fluorescence de revêtements NiP avec diffé- rentes teneurs en P. L‘intensité du pic P-K représente directement la concentration en phosphore.
Spectres de fluorescence de revêtements NiP avec diffé- rentes teneurs en P. L‘intensité du pic P-K représente directement la concentration en phosphore.
(Image: Helmut Fischer)

EPHJ, stand B18

L'analyse par fluorescence de rayons X (XRF) – largement utilisée dans la galvanisation pour la mesure d'épaisseur de revêtements et l‘analyse des revêtements – ne permettait jusqu‘a présent de mesurer le phosphore que de façon indirecte grâce a l'évaluation du signal du substrat.

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On était donc limité aux systèmes avec un substrat ne contenant qu'un seul élément lourd et à une épaisseur de revêtements minimum d'env. 4 μm. Les appareils à tube compteur proportionnel permettent toujours la mise en oeuvre de cette méthode. Les détecteurs Si (SDD) de haute précision disponibles aujourd'hui permettent de mesurer directement le signal de fluorescence P-K.

Cela ouvre la porte a beaucoup de nouvelles applications pour l'analyse P du nickel chimique. Il est ainsi possible de mesurer la teneur en P du nickel chimique sur tous les substrats, comme par exemple les circuits imprimés (Cu/résine époxy), les alliages revêtus ainsi que sur l'aluminium ou le plastique. Lors de la détermination de la teneur en P et de l'épaisseur du revêtement Ni, il faut tenir compte de deux particularités:

  • a) il faut mesurer l'épaisseur de revêtements et la teneur en P à l'aide de deux méthodes d'excitation différentes (excitation multiple – DefMA spécial), et
  • b) à cause de la faible énergie du rayonnement de fluorescence P-K, la profondeur des informations sur la teneur en P n'est que d‘a peine un micromètre. On constate souvent des réflexes de diffraction lors de l‘excitation molle, nécessaire à une mesure P efficace. On ne peut éviter leur influence sur l'évaluation spectrale que grâce à un paramétrage DefMA adéquat. L‘installation des applications NiP sur un Fischerscoper X-RAY de Helmut Fischer avec SDD doit donc se faire en récupérant les paramètres autorisés.

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